简单的介绍下赛默飞ICP光谱仪的校正方法

　　赛默飞ICP光谱仪采用直接驱动装置传动光栅，保证了极快的分析速度和好的重现性。采用40.68MHZ RF发生器以保证高的信号背景比(S/B)和很低的检出限。采用新技术设计了优良的检测系统，保证了分析质量的可靠。在等离子体发射光谱分析中具有非常好的检出限和任意选择分析元素的灵活性。从而可分析各种物资材料的样品成分, 特别在各种高纯材料及高纯稀土的杂质成分分析方面更具有优势。系统采用了进口元器件，非常有保障的保证了定位能力，并且还有先进的电子控制系统，您可以放心使用购买。

　　仪器可用标样中目标元素的“真实浓度”与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线（校准曲线）。如果铁含量变化过大，如高、中合金钢，其影响不可忽略，需要用标样中目标元素的“相对浓度”（或“浓度比”）与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线，这就是我国光谱分析的前辈讲的“诱导含量法”。如果希望用同一工作曲线同时分析高、中、低合金钢，那就都要用“相对浓度”来校正基体含量的影响。更进一步，如果既要校正基体含量的影响，又要校正共存元素的干扰，就应该用“表观浓度”来拟合工作曲线。

　　赛默飞ICP光谱仪在使用前应先进行校正，具体方法如下：

　　一、 光学系统校正

　　在仪器中，操作软件自动控制仪器每30分钟快速校正、每2小时*校正光学系统。如果实验室环境温度变化较大，不能保证工作条件，可能造成测量结果数据漂移。

　　二、 等离子体位置校正

　　等离子体位置校正的目的是将光源对准光学系统。通常在重新装配进样系统后，点燃等离子体，用Mn溶液（10ug/mL）校正。在等离子体位置校正过程中，值得注意的是：确保选中Mn  257.610波长、Mn溶液能够正常进入雾化器并形成气溶胶进入等离子体。如果上述条件没有满足，可能造成校正失败。

　　三、 波长校正

　　在使用任何一个元素、任何一个波长进行分析测量之前，都要做波长校正。赛默飞ICP光谱仪波长校正的目的是：对事先存储在谱线库中的理论波长坐标位置进行修正、保证实际使用的波长坐标位置准确。