赛默飞CID检测器检测原理是怎样的
CID是一种电荷注入器件，其基本结构与CCD相似，也是一种MOS结构，当栅极上加上电压时，表面形成少数载流子的势阱，入射光子在势阱邻近被吸收时，产生的电子被收集在势阱里，其积分过程与CCD一样。
赛默飞CID检测器使用简单，操作容易，无需设置调整，无需用户校准，样品不需处理，稳定可靠，使用成本低便于携带等特点。具有可直接显示分析结果和金属类型、对／错鉴别，快速分类、黑色以及有色金属近似定量分析和等级鉴别，利用预置的通用或特别工作曲线，可作单基体或多基体分析，可以按照具体样品和用户的要求进一步制作工作曲线，以满足特殊工艺或材质的要求等功能。可以携带到需要做可靠的金属鉴别或金属分类的任何地方，适合于现场金属分析 。是一种全新概念的金属分析仪。
赛默飞CID检测器检测原理是把光生电荷转移出去再检测，由于电荷转移出去后，MOS电容中不再有电荷，所以叫破坏型读出方式。CID是在每个检测单元上直接测，测量完毕后，光生电荷仍然存储在MOS电容中（可以参看下面的检测过程），所以叫非破坏型读出方式。
CID与CCD的主要区别在于读出过程，在CCD中，信号电荷必须经过转移，才能读
出，信号一经读取即刻消失。而在CID中，信号电荷不用转移，是直接注入体内形成电流
来读出的。即每当积分结束时，去掉栅极上的电压，存贮在势阱中的电荷少数载流子(电子)被注入到体内，从而在外电路中引起信号电流。
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